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Axio Imager 2 채사광학현미경
Axio Imager 2 Chies 광학 현미경 고급 재료 연구를 위한 현미경 시스템 현미경 워크플로우에 운영 편의성 도입 - Axio Imager 2 품질 검사 및 프로세스 제어에서 정확성 보장
제품 상세 정보

상품 상세 정보

Axio Imager 2 채사광학현미경고급 재료 연구를 위한 현미경 시스템

현미경 워크플로우에 운영 편의성 도입 - Axio Imager 2는 품질 검사 및 프로세스 제어에서 정확하고 반복 가능한 결과를 제공합니다.

Axio Imager 2는 뛰어난 광학 렌즈와 균일한 조명의 특성을 가지고 있습니다.관찰 방법 및 광로 관리자는 사전 설정 조건과 반복 가능한 결과를 보장합니다.ACR 기능이 구성된 Axio Imager.Z2m은 대물렌즈와 관찰 방식 모듈을 자동으로 감지하고 선택할 수 있습니다.

네 가지 서로 다른 호스트 프레임에서 원하는 시스템을 선택하고 전문 솔루션을 사용하여 Particle Analyzer, 연결된 현미경 시스템 또는 LSM 700 애플리케이션을 확장합니다.

  특징 이점:

뛰어난 명암비와 해상도를 갖춘 옵티컬 시스템

다양한 전기 및 코딩 구성 요소를 사용하여 유연성을 향상시키는 모듈식 호스트 설계

안정적인 호스트 및 무진동 작동 환경은 관측 결과의 반복성을 보장합니다.

레이저 공초점 스캔 현미경 LSM 700을 사용하여 Axio Imager 2 업그레이드

연관된 현미경 시스템의 작업 및 입자 분석에 Axio Imager 2 사용

자동화 기능은 품질 검사 및 프로세스 제어를 통해 반복 검사 결과의 정확성을 보장합니다.

  관찰 방법 선택:

서로 다른 재료를 연구하고 검측하다.금속 구조, 복합 재료, 유리, 목재 및 도자기를 분석합니다.폴리머와 액정을 검사하다.

다양한 관찰 방식을 선택하여 다양한 정보를 얻을 수 있습니다.반사광을 사용하여 명장, 암장, 미분간섭(DIC), 원미분간섭(C-DIC), 편광 또는 형광에서 시료를 관찰합니다.투과광을 사용하여 명장, 암장, 미분간섭(DIC), 편광 또는 원형 편광에서 샘플을 검사합니다.

관찰 방식 관리자는 Axio Imager 2의 조명 설정을 복사할 수 있는지 확인합니다.

  뛰어난 표면 어플리케이션

Axio Imager.Z2m 또는 Axio Imager.M2m은 터치 스크린에 중요한 작동 기능을 표시하고 손끝으로 모든 전기 구성 요소를 제어할 수 있습니다.

기타 제어 버튼은 인체공학적 방식에 따라 초점 조절 구동 장치 주변에 배열되어 촉각을 통해 각 제어 버튼을 쉽게 구분할 수 있다.

Axio Imager.D2m에는 5개의 사전 프로그래밍 버튼이 있고 Axio Imager.Z2m에는 10개의 사용자 정의 버튼이 있습니다.

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