MarSurf WS 1은 백색광 간섭법에 기반한 광학 표면 센서입니다.이 기술은 신속하고 고정밀 표면 형태 측정을 가능하게 하며 광범위한 다양한 재질의 가공소재에 적용됩니다.
이 디자인은 기존 간섭법과 비슷한 반면 연속광이 아닌 흰색 빛을 사용했다.백색광은 비교적 짧은 연속 길이를 가지고 있기 때문에 표면의 형태를 측정할 때 더욱 특성을 나타낸다.기존 간섭법에 비해 높이를 측정할 때 높이 정보가 명확하게 표시되고 분석될 수 있습니다.측정된 표면 영역은 CCD 카메라에 표면 영역과 고정밀 참조 표면이 파팅 및 참조 도면을 통해 계층화되고 카메라에서 간섭되는 동일한 비율의 이미징(Mirau 대물경)으로 표시됩니다.
측정 중에 Mirau 대물렌즈가 원격 위치 조절기를 통해 Z축 방향으로 작은 범위로 이동하면서 생성된 간섭도는 이미지 힙과 평정이 결국 높이 데이터로 변환된 것으로 기록됩니다.

MarSurf WS 1은 정밀한 실험실이나 생산 현장 환경에서도 사용할 수 있습니다.
다른 광학 측정 원리는 서로 다른 유형의 표면을 측정할 때 측정 범위를 벗어나기 쉽다. 그 중 일부는 고도 반사 표면 측정을 실현할 수 없고 다른 일부는 거친 표면을 정확하게 측정할 수 없다.
MarSurf WS 1 및 혁신적인 측정 신호 평가는 반사 가공소재 표면 및 거친 가공소재 표면의 분석에 적용됩니다.예를 들어 수직 방향 고해상도는 렌즈나 렌즈 표면 조잡도 마이크로미터급 정밀도와 같은 광학 어셈블리를 측정할 수 있다.또한 미세 기계 부품 표면 재질 측정 측정이 가능한 다양한 재질에 적용되는 가공소재는 유리, 종이, 유면, 금속, 플라스틱, 코팅 및 액체를 측정할 수 있습니다.
MarSurf XT 20 형태 측정 소프트웨어는 광범위한 기능을 갖춘 강력한 평가 도구입니다.표준 MarWin 소프트웨어 플랫폼 덕분에 MarSurf XC 20 소프트웨어에서도 혜택을 볼 수 있습니다.

• 컴팩트 센서
• 새로운 조명 개념
• USB를 통한 전원 공급
• 높은 이미지 비율 예: 짧은 측정 시간
• 나노미터 고해상도
• 측정 시간 (일반적으로 평정 20~30초 포함)
• 조합식 설계 원리
• 교체 가능한 조명 및 이미징 경로
• MarWin 표준 폼 팩터 소프트웨어를 통해 새로운 시스템의 장점 평가