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다기능 스캔 프로브 현미경 AFM100 Plus/AFM100 시스템
AFM100 Plus/AFM100 시스템은 연구개발, 생산, 교육 등 다양한 장소에서 AFM 애플리케이션을 보급할 목적으로 운용성, 신뢰성 및 고효율 관찰을 추구하는 범용 고해상도 스캔 프로브 현미경 시스템이다.
제품 상세 정보

다기능 스캔 프로브 현미경 AFM100 Plus/AFM100 시스템

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多功能扫描探针显微镜AFM100 Plus /AFM100 系统

AFM100 Plus/AFM100 시스템은 연구개발, 생산, 교육 등 다양한 장소에서 AFM 애플리케이션을 보급할 목적으로 운용성, 신뢰성 및 고효율 관찰을 추구하는 범용 고해상도 스캔 프로브 현미경 시스템이다.

  • 특징

특징

신뢰할 수 있는 프로브 교체를 위한 사전 설치 프로브 시스템

원클릭 자동 측정 / 처리 / 분석

AFM 태그 기능을 사용하여 동일한 시야에서 AFM-SEM-EDS 관찰 분석 수행

데이터 적용

스캐너 현미경의 응용 데이터를 소개하다.

설명

스캔식 터널 현미경(STM)과 원자력 현미경(AFM) 등의 원리와 다양한 상태 원리를 설명한다.

과거 기록 및 SPM 개발

우리의 스캐너 현미경과 우리의 설비의 역사와 발전을 묘사한다.(Global site)

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