EBIC 테스트를 수행하는 샘플은 반도체 재료여야 하며 전자 공혈 쌍을 분리하기 위해 내부 전장이 포함되어 있어야 합니다.
측정을 통해 우리는 PN매듭의 위치, 폭을 얻을 수 있으며, IV 곡선 연구를 통해 정류 특성을 판정하고, 소수의 캐리어의 확산 길이, 결함의 위치, 전자 부품의 실효 분석을 연구할 수 있다.

예 1: PN결합 위치, 너비, 소자 확산 길이 테스트

예 2: 반도체 재료의 비트레이트 밀도를 테스트하고 Si 태양 전지 재료의 소라형 비트레이트를 정량적으로 계산합니다.