위방2슬롯 HAST 고압 가속 노화 상자: 영어 이름 (2-Zone HAST CHAMBER) 은 IC 패키지, 반도체, 마이크로 전자 칩, 자성 재료 및 기타 전자 부품에 사용되는 고압, 고온, 불포화/포화 습열, 등 가속 수명 신뢰성 시험.

►상하 듀얼 슬롯 설계를 통해 실험실 공간을 절약하고1대의 가격 = 2대의 가치, 장비 사용 비용 절감

►단일 화면 이중 제어, 복잡하고 번거로운 설정을 줄이고, 서로 다른 시료의 동시 테스트를 만족시키며, 시험 효율을 높인다.

►96번 편압 단자 설계로 칩 편압 테스트를 만족시킨다.

►제품은 HAST 불포화 고압 증기의 고정 습열 테스트 및 PCT 포화 고압 증기 테스트와 호환됩니다.

►자동 박스 도어 디자인, 버튼 제어 박스 도어 개폐, 자체 압력 보호.

응용 분야：

PCB, IC 반도체, 커넥터, 회로 기판, 자성 재료, 고분자 재료,EVA、태양광 부품 등 업계 관련 제품 노화 수명 가속화 시험

기준 충족：

AEC-Q100-REV-J

AEC-Q101-REV-E

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 전기전자제품 환경시험 제2부분: 시험방법 Cx: 불포화고압증기의 항정습열

IEC60068-2-66-1994 환경 시험.제2-66부분: 시험방법.시험 Cx: 안정적인 습열

JESD22-A100 순환 온도 및 습도 오프셋 수명

JESD22-A101 안정온도, 습도/편압, 수명시험(온습도 편압 수명)

JESD22-A102 고압 찜질 시험(내습성 침투 가속)

JESD22-A108 온도, 오프셋 전압 및 작동 수명

JESD22-A110 HAST 고가속 온도 습도 응력 시험

JESD22-A118 온습도 무편압 고가속 응력 실험 UHAST(무편치 전압 미포화 고압 증기)

* 모든 매개변수 사양 및 모델 크기 사용자 정의 가능