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체이스 MultiSEM 고속 스캐닝 전자 현미경
체이스가 전자현미경 속도를 여는 혁신 시대는 멀티SEM 현미경을 통해 91개의 병렬 전자빔의 채집 속도를 충분히 활용할 수 있다.이제 나노 해상도로 센티미터급 샘플을 영상화할 수 있습니다.이 멋진 스캔 전자 디스플레이
제품 상세 정보

상품 상세 정보

채 사전자 현미경 속도 의 혁신 시대 를 열다

MultiSEM 현미경을 사용하면 91개의 병렬 전자빔의 채집 속도를 충분히 활용할 수 있습니다.이제 나노 해상도로 센티미터급 샘플을 영상화할 수 있습니다.이 뛰어난 스캔 전자 현미경(SEM)은 7 x 24시간의 지속적이고 안정적인 작동을 위해 설계되었습니다.고성능 데이터 수집 프로세스를 간단히 설정하기만 하면 MultiSEM은 독립적으로 자동으로 고감도 이미지 수집을 완료할 수 있습니다.

성숙한 ZEN 이미징 소프트웨어로 MultiSEM 제어: 고성능 스캔 전자 현미경의 모든 기능 옵션을 직관적이고 유연하게 관리할 수 있습니다.

  매우 빠른 속도와 나노 해상도로 이미지 수집

91개의 빔이 동시에 작동하여 뛰어난 이미징 속도를 제공합니다.

1 mm2의 영역을 몇 분 안에 이미징하여 최대 4 nm의 해상도를 제공합니다.

최적화된 2차 전자 탐지기를 이용하여 낮은 신호 잡음비로 높은 라이닝 이미지를 수집합니다.

  대형 샘플의 채집과 영상

멀티SEM은 10cm x 10cm 크기의 샘플을 수용할 수 있는 샘플 클립을 갖추고 있다.

전체 샘플을 영상화하고 모든 세부 사항을 발견하여 과학 연구에 힘을 보탰다.

자동 채집 시나리오는 대면적 이미징을 실현합니다. - 가시 정보를 잃지 않고 정교한 나노 이미지를 얻을 수 있습니다.

  ZEN 이미징 소프트웨어

성숙한 ZEN 소프트웨어를 사용하여 MultiSEM을 간편하고 직관적으로 조작할 수 있으며, 이 소프트웨어는 모든 체이스 이미징 시스템에 응용된다

지능형 자동 튜닝을 통해 고해상도와 안감으로 이미지를 캡처할 수 있습니다.

샘플의 실제 상황에 따라 복잡한 자동 채집 프로세스를 빠르고 쉽게 생성

멀티SEM의 ZEN 소프트웨어는 연속적인 병렬 이미지를 고속으로 처리

유연하고 신속한 애플리케이션 개발을 위한 개방형 API 소프트웨어 인터페이스

대체적 샘플 연속 절편 단층 스캐닝 데이터 획득

ATUMtome 자동 절단 수지를 사용하여 생체 조직을 파묻습니다.하루에 최대 1000개의 연속 슬라이스가 수집됩니다.

硅晶片上的固定胶带

절편용 테이프를 실리콘 웨이퍼에 고정하고 채사의 광학 현미경으로 영상을 만든다.체이스의 ZEN 이미징 소프트웨어와 Shuttle & Find 기능 구성 요소를 사용하여 전체를 이미징합니다.다시 실리콘 웨이퍼를 MultiSEM 전자 현미경으로 이동하여 샘플을 전체적으로 미리 보고 ZEN 소프트웨어 사용자 인터페이스를 이용하여 전체 실험을 계획합니다.

  

MultiSEM 截屏显示

전체 실험을 그래픽화된 제어 센터로 설정합니다.효율적인 자동 슬라이스 감지는 관심 영역을 식별하고 마크업하여 많은 시간을 절약할 수 있습니다.

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